超低表面抵抗化成処理 ATMag-S-LR

通信用機器の高度化が進み、そこに使用されるマグネシウム成形品の性能に対する要求も、益々高くなっています。中でも、電波の周波数帯の拡張、簡易な接続による組み立てコスト低減のために、マグネシウム成形品の化成処理表面の抵抗を更に低く、安定化することが求められています。
新技術研究所では、マグネシウム成形品のノンクロム化成処理であるANC処理を発展させて、化成処理皮膜の抵抗値が低く、且つ、安定したLR処理を開発いたしました。
これにより基板のアースを筐体で簡易に取ることが出来るようになることが期待でき、また防錆性にも優れていますので、通信機の筐体などで是非ご検討下さい。


●超低表面抵抗:非リン酸マンガン系
ATMag-S-LR(Super Low Resistance)

高度な導通性が必要な用途向けにLR処理よりもさらに抵抗値の低いS-LR処理を提供しています。

 近年、通信用機器の高度化が進み、そこに使用されるマグネシウム成形品の性能に対する要求も益々高くなっています。中でも、電波の周波数帯の拡張、簡易な接続による組み立てコスト低減のために、マグネシウム成形品の化成処理表面の抵抗を更に低く、安定化することが求められています。 弊社では、マグネシウム成形品のノンクロム化成処理であるANC処理を発展させて、化成処理皮膜の抵抗値が低く、且つ、安定したLR処理、さらに抵抗値の低い化成処理のご要望にお応えしてS-LR処理を開発いたしました。

1. S-LR処理のポイント
測定される抵抗値の安定化のために、従来の燐酸マンガン系処理に代えて非マンガン系の処理を採用して、処理表面のマクロ的な平滑化を図りました。

2. 抵抗値の比較
マグネシウム成形品に対する各化成処理の抵抗値は、以下のようであり、LR処理およびS-LR処理の優れた低抵抗化と抵抗値の安定性が理解いただけると思います。

<AZ91>
・  LR : ロレスタ抵抗値(Ω)   平均値  0.13、 テスター抵抗値(Ω)  平均値 0.35
S-LR: ロレスタ抵抗値(Ω) 平均値 0.10 、テスター抵抗値(Ω)  平均値 0.05 
皮膜種別: いずれも 非燐酸マンガン

<AZ31>
・  LR :  ロレスタ抵抗値(Ω)   平均値  0.12、  テスター抵抗値(Ω)  平均値 0.12
S-LR: ロレスタ抵抗値(Ω) 平均値  0.04、テスター抵抗値(Ω)  平均値 0.07
皮膜種別: いずれも非燐酸マンガン

3. 塩水噴霧試験結果の比較
マグネシウム成形品の塩水噴霧試験において、LR、S-LR処理品共に結果は良好ですが、S-LR処理の方が耐食性がやや低くなります。

<AZ91>
・ LR : ATI評点 4.5、 R.N. 9.8
・S-LR: ATI評点 4.0、 R.N. 9.0

<AZ31>
・  LR : ATI評点 3〜4、   R.N.8〜9
・S-LR:ATI評点 2.5〜4、R.N.7〜9

注)ATI 評点
5点:錆が全くない。
4点:糸錆とわずかに白錆がある。
3点:糸錆が50〜60%の面積に点在し、白錆が目立つ。
2点:糸錆と白錆が全面に点在する。
1点:糸錆、白錆がほぼ全面を覆う。
0点:糸錆、白錆が全面を覆い、盛り上がっている。

※性能表の数値は、保証値ではありません。詳しくは、ご相談ください。


 
●低表面抵抗:非リン酸マンガン系
ATMag-LR (Low Resistance)

処理皮膜の抵抗値を低く安定させることで、簡易なアース接続による組み立てコスト低減に貢献しています。

 

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適用基本条件:
・当社は化成処理までの実施。表面塗装は貴社で実施下さい。(ただし当社での塗装も可能:費用等応相談)
・量産前提でご検討中の製品であること。(基礎研究等の場合は応相談)
・化成処理可能な状態の製品お預かり後、5営業日での発送。

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